纳米傅里叶红外光谱仪
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应用案例： 对纳米尺度污染物的化学鉴定 AFM表面形貌图像 (左), 在Si片基体（暗色区域Ｂ）与PMMA薄膜（Ａ）之间可以观察到一个小的污染物。机械相位图像中（中），对比度变化证明该污染物的是有别于基体和薄膜的其他物质。将点Ａ和Ｂ的nano-FTIR 吸收光谱（右），与标准红外光谱数据库对比， 获得各部分物质的化学成分信息. 每条谱线的采集时间为7min nano-FTIR可以应用到对纳米尺度样品污染物的化学鉴定上。下图显示的Si表面覆盖PMMA薄膜的横截面AFM成像图，其中AFM相位图显示在Si片和PMMA薄膜的界面存在一个100nm尺寸的污染物，但是其化学成分无法从该图像中判断。而使用nano-FTIR在污染物中心获得的红外光谱清晰的揭示出了污染物的化学成分。通过对nano-FTIR获得的吸收谱线与标准FTIR数据库中谱线进行比对，可以确定污染物为PDMS颗粒。 技术参数配置： ■ 反射式 AFM-针尖照明■ 标准光谱分辨率: 6.4/cm-1■ 无背景探测技术■ 基于优化的傅里叶变换光谱仪■ 采集速率： Up to 3 spectra /s ■ 高性能近场光谱显微优化的探测模块■ 可升级光谱分辨率：3.2/cm-1■ 适合探测区间：可见，红外(0.5 – 20 nm)■ 包括可更换分束器基座■适用于同步辐射红外光源 NEW!!!
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